产地 | 江苏 |
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销售方式 | 直销 |
执行质量标准 | 国标 |
发货期限 | 15天 |
品牌 | 安原仪器/atomicinstruments |
型号 | FISCHERSCOPE X-RAY PCB |
加工定制 | 否 |
分析范围 | 铝(13)到铀(92) |
分析方法 | 原子荧光光谱法 |
印制电路板测量专用系列
当今的印刷电路板具有大量的镀层触点。为了保证焊接接头的可靠性,耐腐蚀性和保用期,各种材料的相应厚度必须正确对应。为了管控这些严格的规格,能量色散X射线荧光是方法。
Fischer专门开发的X射线荧光仪器完全满足PCB制造商的要求:它们不仅快速,易于使用,而且所有设备都空间宽敞,可以容纳**大610 x 610mm的PCB;
FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCBFISCHERSCOPE? X-RAY XULM?-PCB是进行简单测量和抽查的理想选择。它配有比例接收器检测器,可缩短测量时间。该X-RAY 荧光仪推荐用于厚度大于0.1μm的镀层测量。
· 标准配置了钨微聚焦管
· 比例接收器,分析从钾(19)到铀(92)之间的元素
· 固定宽敞的样品台,适用于**大610 x 610 mm(24”x 24“)的印刷电路板
· **大样品高度:90毫米
· **小的测量点约?0.2毫米
· 经过认证的全面保护装置;
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB
FISCHERSCOPE? X-RAY XDLM?-PCB也是配备了比例接收器。但是,这款X-RAY荧光仪器具备多个准直器和过滤器,因此您可以为您的任务创建测量条件。基础配置的版本有一个抽出式样品台,可以简化PCB的定位。有需求时还可以配备可编程XY工作台自动测量
· 适用于标准应用的钨微焦点管
· 可选的3个可切换滤波器,可为更复杂的任务提供更好的激发条件
· 用于分析从钾(19)到铀(92)的元素的比例接收器检测器
· 手动抽推式或可编程测量台,适用于**大610 x 610 mm(24“x 24”)的印刷电路板
· **大样品高度:5mm
· 4个可切换的准直器**小测量点约?0.2mm;
· 经过许可的全面保护装置;
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB
在高可靠性应用中,印刷电路板是质量关键部件。在这种情况下,采用了符合ENIG和ENEPIG工艺的高端电镀方式。由于这些工艺中**薄的镀层厚度在40到100纳米之间,比例接收器的精度不足以监控该过程,FISCHERSCOPE?X-RAY XDV?-μ PCB机型是监控该过程的正确选择,高灵敏度硅漂移检测器(SDD)和多毛细管光学原件的组合可以对尺寸小于50μm的结构进行测量。
特别是在处理非常小的结构时,如果要检查大量随机的样品,单独选择每个测量位置需要花费大量时间。但是,借助Fischer开发的图像识别软件,您可以省去这些时间。只需存储一个特征图像;XDV?-μ PCB仪器会搜索相应的结构并自动测量。
· 配有钨或钼的微聚焦管
· 4个可切换的基本滤片,用于更复杂的任务优化激发条件
· 硅漂移检测器,用于分析铝(13)到铀(92)之间的元素
· 可编程测量台,可选配用于柔性线路板的真空支架
· 用于非常小的测量点的多毛细管光学元件(10或20 μm FWHM)
· **大样品尺寸:610 x 610毫米,高10毫米
· 经过许可的全面保护装置;