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	非接触式测量显微镜类型其他目镜放大倍数10X物镜放大倍数5X10X20X品牌cewei型号CW2010-Z加工定制否特点: 以裂像聚焦指示器（FA功能）为测量原理, 采用高精度光学聚焦点检测方式进行非接触高低差测量。不仅可以对准目标影像, 还能观察测量点的表面状态,对高度,深度,高低差等进行测量。所以对极细微的间隙高低差，夹杂物、微米以下的突起、细微划痕进行观察。用途：适用于硅片、IC、LCD、TFT、PCB、MEMS激光加工、晶片测试、半导体材料、线束加工蚀刻、液晶电池盖、导线框架等产品的检查观察.也适用于经过	2021-10-08

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