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北京卓信博澳仪器有限公司

原子荧光,ICP光谱仪,实验室用超纯水机,X荧光光谱仪,熔样

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供应SPECTRO MIDEX能量色散小焦点X射线荧光光谱仪

产品价格面议

产品品牌卓信仪器

最小起订≥1 台

供货总量100 台

发货期限自买家付款之日起 60 天内发货

浏览次数532

企业旺铺http://djk.zhaoyishi.net/index.php?homepage=lijie0516

更新日期2021-10-08 17:36

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商品信息

基本参数

品牌:

卓信仪器

所在地:

北京

起订:

≥1 台

供货总量:

100 台

有效期至:

长期有效

准确度:

外形尺寸:

580x670x740 mm
详细说明
准确度
外形尺寸 580x670x740 mm
工作温度 25度
工作湿度 70%
电源 95-120V/200-240V,50/60 Hz
测量范围 Na-U
电源电压 220V/Hz
分析时间 15s
类型 ROHS检测仪器
适用范围 地矿
重量 60公斤
执行质量标准 欧标
结构型式 台式
品牌 斯派克
型号 SPECTRO MIDEX
加工定制
质量认证 德国GS认证


    SPECTRO MIDEX能量色散小焦点X射线荧光光谱仪上市时间:

     2009年3月
    SPECTRO MIDEX能量色散小焦点X射线荧光光谱仪创新点:

    1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线,集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制,代表性强,实用性强,准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。
    2.采用高分辨,高计数率,电制冷的SDD检测器,实际分辨率160eV,计数率高达250,000cps,非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单,无需繁琐而危险的液氮添加过程。
    3.激光配合CCD摄像机双定位,样品分析点可视,可调。定位精度高。分析点的照片可截屏,出具报告时可以粘贴在报告中。
    4.分析速度快,可在180秒内完成各类样品的分析任务
    5.可选配狭缝交换器,测试点的尺寸可调,由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分,一般分析点的尺寸为1毫米。
    6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台,完成点,线,面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析。
    7.超大样品室,可完成超大样品的分析,样品的尺寸可以达到300*200*150mm(长*宽*高)。同时可完成超小样品1mm样品的分析


      SPECTRO MIDEX能量色散小焦点X射线荧光光谱仪仪器简介:

      在工业及科研领域,经常需要对样品进行非破坏性的元素分析,同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求,如RoHS分析,贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度,非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司新推出的SPECTRO MIDEX?X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求,可迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求,德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化,使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。

??SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统,集准直、聚焦、样品激发于一体,是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX?适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件,使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX?也可满足快速分析的需要,在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。
??SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构,海关商检、造币工业等,还可完成其它分析任务如:非破坏性检查,贵金属分选,电子线路及电气元件的分析等。

      


       SPECTRO MIDEX能量色散小焦点X射线荧光光谱仪技术参数:

       激发
        - Mo 靶X光管
       功率:30W,电压:48kV
        - 测量点尺寸
       Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm
       样品室
        - 可显示样品的摄像系统(可调焦)
        - 手动调节样品台,样品定位简便
        - 马达驱动移动的XYZ样品台,
       行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(宽x深x高),
       样品重量:3kg/6.6 lbs

       检测器
        - Peltier 冷却的Si 漂移检测器:
       Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
        - 以Mn Kα线,在测量计数率为
        10,000脉冲计数时, 能量分辨率:FWHM< 160 eV
        - 微处理器控制的检测器和读出电路
        - 脉冲计数率可达250,000 cps
       光谱仪数据
        - 电压:95-120V/200-240V,50/60 Hz,
        - 光谱仪能耗:200W
        - 仪器尺寸 宽x 深 x 高,单位mm
                        580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1”
         - 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ”
-          重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置
        环境条件
        - 周围环境温度:5-30°C (41-85°F)
        在20-25°C (68-77°F)下,可达到标定仪器性能
        - 在 25°C (77°F)下相对湿度: 10-80 %,无冷凝,无蒸气腐蚀,防尘

        SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是新推出的第三代不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定,还可对超大样品的表面(面积可达EC标准线路板规格的2倍, 233x160 mm)进行元素分布分析。


 
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